赤外線の反射の影響を除去
2017年7月19日、日本アビオニクス株式会社は世界で初めて、低放射率の物体の温度分布を計測できる技術の開発に成功したことを発表した。
日本アビオニクス株式会社が開発したこの新しい技術では、赤外線の反射による影響を除去することで、正確に低放射率の物体の温度分布を計測を可能にした。
今までは、赤外線サーモグラフィカメラによる、金属の表面温度の計測は困難とされてきた。しかし、日本アビオニクス株式会社が開発した新しい技術では、金属の表面温度を、非接触で正確に計測できるだけでなく、複雑な形状の樹脂加工も実現できる。
赤外線波長帯
日本アビオニクス株式会社の新技術が利用する赤外線波長帯は、測定対象から放射されるだけで、周囲の物体からは、ほとんど放射されない。
一般的な赤外線サーモグラフィの測定波長において、周囲の物体から、赤外線が放射されると、測定対象の表面に反射して、測定精度が落ちる。
金属などを非接触で温度計測
放射率が低い金属などは表面反射が特に強く、正確な温度計測が困難でしたが、日本アビオニクス株式会社の新技術により、金属などを正確に温度計測することが、可能になった。
また、温度計(熱電対など)を使用しない(非接触)金属などの温度計測も可能になり、点ではなく温度分布として、捉えることも可能になった。
(画像は日本アビオニクス株式会社のホームページより)
日本アビオニクス株式会社
http://www.avio.co.jp/